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日本电子JEOL原子分辨率分析电子显微镜
  • 产品型号:JEM-ARM200F
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-07-27
  • 访  问  量:12
简要描述:

日本电子JEOL原子分辨率分析电子显微镜
日本电子株式会社(JEOL)推出的JEM-ARM200F “NEOARM"是一款在原子级分析领域具有地位的球差校正透射电子显微镜。该系统通过冷场发射电子枪与新型高阶球差校正器(ASCOR)的独特组合,能够在从200kV到30kV的宽广加速电压范围内实现原子级分辨率的观察与分析。

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日本电子JEOL原子分辨率分析电子显微镜

日本电子JEOL原子分辨率分析电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)推出的JEM-ARM200F “NEOARM"是一款在原子级分析领域具有地位的球差校正透射电子显微镜。该系统通过冷场发射电子枪与新型高阶球差校正器(ASCOR)的独特组合,能够在从200kV到30kV的宽广加速电压范围内实现原子级分辨率的观察与分析。其配备的JEOL COSMO™自动像差校正系统基于全新算法(SRAM),可快速、精准地自动完成高阶像差校正,大幅提升了分析通量。此外,通过e-ABF成像技术和Perfect sight检测器,显著增强了对轻元素材料的成像衬度。

项目规格

电子枪冷场发射

加速电压30 - 200 kV

STEM HAADF分辨率70 pm (200 kV)

TEM信息极限100 pm (200 kV)

球差校正NEO ASCOR (STEM)

自动校正系统JEOL COSMO™ (SRAM算法)

特色成像e-ABF、OBF STEM(选配)

应用领域原子级结构分析、轻元素成像JEM-ARM200F NEOARM的设计兼顾了*性能与易用性,其简约的“纯白"与“JEOL银"外观,以及支持远程操作的分室设计,使其不仅适用于资深研究人员,也为刚进入电镜领域的新用户提供了便捷高效的分析平台。

日本电子JEOL原子分辨率分析电子显微镜

中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR,日本SAKAE思博,日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器,SUZUKI超声波切割机,GRAPHTEC图技,JST日压,AND爱安德,TRUSCO中山,ASONE亚速旺,TOA-DKK 东亚电波,ATAGO爱拓,HOZAN宝山,FUNATECH船越龙,VESSEL威威,HEIDON新东科学,HIOS好握速,SIBATA柴田科学,HORIBA堀场,   ONOSOKKI小野,KETT凯特,日本CKD,日本妙德CONVUM,HAKKO白光,SSD西西蒂,MALCOM马康,MUSASHI武藏, AMADA米亚基,MECT麦特,Mitutoyo三丰,PISCO匹士克等多家品牌认证。

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