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日本电子JEOL电子探针微分析仪
日本电子JEOL电子探针微分析仪
日本电子（JEOL）推出的JXA-iHP200F是一款新一代场发射电子探针微分析仪（FE-EPMA），专为固体材料微区化学成分的精准定量分析与高分辨率显微结构观察而设计。它整合了场发射扫描电镜、能谱仪与波谱仪，能同时获取样品的形貌与成分信息，尤其擅长轻元素、痕量元素及稀土元素的分析。
参数项目性能指标
电子枪类型肖特基场发射电子枪
二次电子像分辨率≤ 2.5 nm (30 kV)
加速电压1 ～ 30 kV (步长0.1 kV)
探针电流范围1 pA ～ 3 µA
分析元素范围⁵B ～ ⁹²U (WDS)，可选配至Be
波谱仪配置1 ～ 5 道，X射线出射角40°
该设备凭借其的空间分辨率与定量分析精度（主元素优于1%），在地质、材料、冶金等领域，为微区成分与结构对应研究提供了强有力的支持。
中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR，日本SAKAE思博，日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器，SUZUKI超声波切割机，GRAPHTEC图技，JST日压，AND爱安德，TRUSCO中山，ASONE亚速旺，TOA-DKK 东亚电波，ATAGO爱拓，HOZAN宝山，FUNATECH船越龙，VESSEL威威，HEIDON新东科学，HIOS好握速，SIBATA柴田科学，HORIBA堀场， ONOSOKKI小野，KETT凯特，日本CKD，日本妙德CONVUM，HAKKO白光，SSD西西蒂，MALCOM马康，MUSASHI武藏， AMADA米亚基，MECT麦特，Mitutoyo三丰，PISCO匹士克等多家品牌认证。
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