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日本电子JEOL场发射俄歇电子能谱仪螺旋探针
  • 产品型号:JAMP-9510F
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-07-28
  • 访  问  量:7
简要描述:

日本电子JEOL场发射俄歇电子能谱仪螺旋探针
日本电子(JEOL)推出的JAMP-9510F是一款高规格的场发射俄歇电子能谱仪(FE-AES),专为纳米尺度下材料表面化学状态分析与元素表征而设计。它结合了高空间分辨率的场发射扫描电镜与俄歇能谱分析,能对样品最表层(约4 nm深度)除H、He以外的所有元素进行定性、定量及化学态分析,尤其对轻元素敏感。

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产品详情

日本电子JEOL场发射俄歇电子能谱仪螺旋探针 

日本电子JEOL场发射俄歇电子能谱仪螺旋探针 

日本电子(JEOL)推出的JAMP-9510F是一款高规格的场发射俄歇电子能谱仪(FE-AES),专为纳米尺度下材料表面化学状态分析与元素表征而设计。它结合了高空间分辨率的场发射扫描电镜与俄歇能谱分析,能对样品最表层(约4 nm深度)除H、He以外的所有元素进行定性、定量及化学态分析,尤其对轻元素敏感。

参数项目性能指标

电子枪类型肖特基场发射电子枪(In-lens)

二次电子像分辨率3 nm(25 kV, 10 pA)

俄歇分析探针直径8 nm(25 kV, 1 nA)

加速电压0.5 ~ 30 kV

探针电流10⁻¹¹ ~ 2×10⁻⁷ A

能量分析器半球静电分析器(HSA)

能量分辨率(ΔE/E)0.05 ~ 0.6%

灵敏度(Cu-LMN)≥ 840,000 cps(10 kV, 10 nA, 0.6%分辨率)

该设备支持高光谱成像(Hyperspectral Mapping),可在不预设元素的情况下从全谱数据中提取元素面分布信息,有效避免数据遗漏。结合氩离子刻蚀功能,可实现深度剖析,获得元素的三维分布信息。其内置的荷电中和功能使其能够直接分析绝缘样品,拓展了应用范围。仪器广泛应用于半导体失效分析、薄膜工艺、纳米材料表征及新能源研究等领域。

日本电子JEOL场发射俄歇电子能谱仪螺旋探针

中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR,日本SAKAE思博,日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器,SUZUKI超声波切割机,GRAPHTEC图技,JST日压,AND爱安德,TRUSCO中山,ASONE亚速旺,TOA-DKK 东亚电波,ATAGO爱拓,HOZAN宝山,FUNATECH船越龙,VESSEL威威,HEIDON新东科学,HIOS好握速,SIBATA柴田科学,HORIBA堀场,   ONOSOKKI小野,KETT凯特,日本CKD,日本妙德CONVUM,HAKKO白光,SSD西西蒂,MALCOM马康,MUSASHI武藏, AMADA米亚基,MECT麦特,Mitutoyo三丰,PISCO匹士克等多家品牌认证。

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