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日本OTSUKA大塚电子动态光散乱法测量粒径
日本OTSUKA大塚电子动态光散乱法测量粒径
nanoSAQLA是日本大塚电子推出的一款基于动态光散射法（DLS法） 的多样品纳米粒径测量系统。其核心定位是高通量与高效率，无需自动取样器即可实现最多5个样品的连续测量，突破了传统单样品池效率低下的瓶颈。该设备覆盖从0.6nm至10μm的宽粒径范围，并支持从稀薄溶液（0.00001%）到高浓度（40%）样品的直接测量。它采用非浸入式设计，避免了样品间的交叉污染，同时标配约1分钟的高速测量与温度梯度功能，兼具轻量小巧（约18kg）的特性，非常适合实验室多场景应用。
核心参数表
项目规格详情
测量原理动态光散射法（光子相关法）
粒径测量范围0.6 nm ～ 10 μm（直方图分析最小为0.2 nm）
浓度范围0.00001% ～ 40%（依样品而异）
连续测量能力最多5个样品（标准配置，无需自动取样器）
温度控制0 ～ 90℃（具备温度梯度功能）
样品容量标准比色皿：1.2mL～；微量比色皿：20μL～
光源/检测器高功率半导体激光（660nm, 70mW）/ 高灵敏度APD
主机尺寸/重量240(W) × 480(D) × 375(H)mm / 约18 kg
选配功能自动取样器（AS50，支持最多50个样品连续测）、微量样品池、荧光滤光片
总结
nanoSAQLA是一台专为提升实验室纳米粒径分析效率而设计的多功能系统。它在保证宽浓度、宽粒径测量能力的同时，通过5样品连续测量与一键式软件操作，极大地简化了质检与研发流程。对于需要处理大量不同溶剂、不同浓度分散体系的用户（如墨水、颜料、半导体浆料或生物大分子），该设备能显著缩短分析时间，其选配的自动取样器（AS50）更能将通量扩展至50个样品，是为高通量粒径质控场景而生的理想工具。
中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR，日本SAKAE思博，日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器，SUZUKI超声波切割机，GRAPHTEC图技，JST日压，AND爱安德，TRUSCO中山，ASONE亚速旺，TOA-DKK 东亚电波，ATAGO爱拓，HOZAN宝山，FUNATECH船越龙，VESSEL威威，HEIDON新东科学，HIOS好握速，SIBATA柴田科学，HORIBA堀场， ONOSOKKI小野，KETT凯特，日本CKD，日本妙德CONVUM，HAKKO白光，SSD西西蒂，MALCOM马康，MUSASHI武藏， AMADA米亚基，MECT麦特，Mitutoyo三丰，PISCO匹士克等多家品牌认证。
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