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日本OTSUKA大塚电子高速相位差测量装置
日本OTSUKA大塚电子高速相位差测量装置
RE-200是日本大塚电子推出的一款高速相位差测量装置，专为低相位差（残留相位差）材料的高效检测而设计。该设备由光子晶体元件（偏光元件）与CCD相机组成的偏光测量模块，搭配透射式偏光光学系统构成。其核心技术优势在于无驱动部设计，通过CCD相机单次快门即可获取偏光强度图谱并完成解析，无需任何机械旋转部件，从而实现了0.1秒以下的超高速测量和优异的重复再现性。设备支持从0nm开始的低相位差测量，适用于评估光学薄膜的残留应变或玻璃制品的形变、歪曲。
核心参数表
项目规格详情
样品尺寸最小10×10mm ～ 最大100×100mm
测量波长550nm（标准规格，其他波长可选）
相位差测量范围约0nm ～ 约1μm
轴检出重复精度0.05°（at 3σ）
检出器偏光测量模块（光子晶体+CCD）
测量光斑直径2.2mm × 2.2mm
光源100W 卤素灯 或 LED光源
主机尺寸/重量300(W) × 560(H) × 430(D) mm / 约20kg
测量项目相位差(ρ/Re)、主轴方位角(θ)、椭圆率(ε)、3次元折射率
总结
RE-200以“从零开始、高速无驱"为核心理念，聚焦于低相位差（残留相位差）的精确测量。通过无驱动偏光测量模块与CCD单次成像技术的结合，打破了传统机械旋转式测量的速度与精度瓶颈，使其在对速度与重复性有严苛要求的产线（In-Line）质控及研发场景中均表现优异。选配的自动旋转倾斜治具与拉伸试验机，可进一步将测量维度拓展至Rth（厚度方向相位差）分析与光弹性评价，是一款兼具速度与扩展性的偏光特性评价工具。
中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR，日本SAKAE思博，日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器，SUZUKI超声波切割机，GRAPHTEC图技，JST日压，AND爱安德，TRUSCO中山，ASONE亚速旺，TOA-DKK 东亚电波，ATAGO爱拓，HOZAN宝山，FUNATECH船越龙，VESSEL威威，HEIDON新东科学，HIOS好握速，SIBATA柴田科学，HORIBA堀场， ONOSOKKI小野，KETT凯特，日本CKD，日本妙德CONVUM，HAKKO白光，SSD西西蒂，MALCOM马康，MUSASHI武藏， AMADA米亚基，MECT麦特，Mitutoyo三丰，PISCO匹士克等多家品牌认证。
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