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日本OTSUKA大塚电子小角激光散射仪
日本OTSUKA大塚电子小角激光散射仪
PP-1000是日本大塚电子推出的小角激光散射仪（SALS），专为高分子材料和薄膜的原位、实时结构解析而设计。该设备基于小角激光散射法，使用可见光（波长785nm）作为光源，能够评估从亚微米到数百微米的结构，检测范围相比小角X射线散射（SAXS）和中子散射（SANS）更广，覆盖了0.1μm至数十微米的尺度区间。
其核心技术在于通过偏振光学系统获取两类散射图样：Hv散射（起偏片与检偏片正交）用于评价光学各向异性、解析结晶性薄膜的球晶半径；Vv散射（两者均垂直）用于分析聚合物共混物的相分离过程和相关距离（分散度）。测量可通过软件在Hv/Vv模式间轻松切换，并支持专用溶液单元中的溶液样品测量。
核心参数表
项目规格详情
测量原理小角光散射法（SALS）
光源半导体激光器（波长785nm）
检测器CMOS相机
散射角度范围0.33° ~ 45°（取决于相机长度）
测量范围（理论值）球晶直径：1.3 ~ 175μm；相关长度：0.1 ~ 100μm
动态范围120dB以上（使用HDR功能时）
测量光斑约φ1mm
最短测量时间10毫秒
电源AC100-240V 75VA
主机尺寸（W×D×H）350 × 500 × 760 mm
解析项目球晶半径、相关距离
数据处理笔记本电脑（Windows 10）
总结
PP-1000以简便、高速、宽范围为核心定位，X射线和中子散射技术在微米级结构分析上的空白。其的价值在于对温度变化等动态过程进行高速（10ms级）原位监测，能够实时追踪聚合物结晶化速度、热硬化/UV硬化树脂的固化进程、拉伸诱导的结构变化等动态行为。对于需要评价结晶性薄膜球晶直径、聚合物共混物相分离结构或粒子凝聚速度的研发与质控场景而言，这是一款兼具实验室台式便利性与深层结构解析能力的实用工具。
中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR，日本SAKAE思博，日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器，SUZUKI超声波切割机，GRAPHTEC图技，JST日压，AND爱安德，TRUSCO中山，ASONE亚速旺，TOA-DKK 东亚电波，ATAGO爱拓，HOZAN宝山，FUNATECH船越龙，VESSEL威威，HEIDON新东科学，HIOS好握速，SIBATA柴田科学，HORIBA堀场， ONOSOKKI小野，KETT凯特，日本CKD，日本妙德CONVUM，HAKKO白光，SSD西西蒂，MALCOM马康，MUSASHI武藏， AMADA米亚基，MECT麦特，Mitutoyo三丰，PISCO匹士克等多家品牌认证。
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