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日本Photonic‑Lattice双折射测量显微镜 PA-micro 是日本 Photonic-Lattice 推出的显微镜型二维双折射/残余应力测量系统。与 PA-300 的台式宏观定位不同，它将光子晶体偏光传感器与奥林巴斯或尼康显微镜结合，把应力测量下沉至微米尺度，适合 TGV 玻璃通孔、芯片边缘、微小光学元件等微区应力分析。
更新时间：2026-09-22
型号：PA-micro
厂商性质：经销商
浏览量：4
Photonic‑Lattice二维双折射应力测量仪 PA-300 是日本 Photonic-Lattice 推出的二维双折射/应力评价系统，属于 PA 系列中的低位相差专用型号。与 WPA-200 主打宽量程不同，PA-300 聚焦 0~130nm 低相位差区间，以 500 万像素实现玻璃、镜片、SiC 晶圆等低应力样品的精密检测。
更新时间：2026-09-22型号：PA-300厂商性质：经销商浏览量：5
Photonic‑Lattice分离式双折射应力测量仪 WPA-200-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 WPA-200 的一体式设计不同，MT 版本采用测量头与光源分离的结构，测量头可嵌入产线实现在线集成，适合自动化生产中的应力品质管理。
更新时间：2026-09-22型号：WPA-200-MT厂商性质：经销商浏览量：4
Photonic‑Lattice二维双折射应力显微镜 WPA-micro 是日本 Photonic-Lattice 推出的显微镜型二维双折射/应力评价系统，与 WPA-200 的台式工业检测定位不同，它将光子晶体偏光传感器深度集成至奥林巴斯或尼康显微镜中，可在微观视野内精准定位并量化结晶取向、残余应力及相位差分布。
更新时间：2026-09-22型号：WPA-micro厂商性质：经销商浏览量：5
Photonic‑Lattice二维双折射应力检测仪 WPA-200 是日本 Photonic-Lattice 公司基于光子晶体偏光传感器技术开发的二维双折射/应力评价系统。核心原理是利用光弹性效应，将透明材料内部应力转化为可量化的相位差分布图像，实现全域一次成像、数秒完成测量，广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃及镜片的残余应力与双折射品质管理。
更新时间：2026-09-22型号：WPA-200厂商性质：经销商浏览量：5
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