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日本Photonic‑Lattice高速红外相机 A700-PH 是日本 Photonic-Lattice 推出的高速红外相机,属于 A700 系列。与 Photonic-Lattice 主打的偏振成像产品线(PA/WPA/CRYSTA 系列)不同,A700-PH 是一款红外热像与可见光一体化的温度分析相机,可同时拍摄红外与可见光图像并叠加显示,用于制造过程监控、电子基板温度计测及各类热现象分析。
日本Photonic‑Lattice偏光成像相机 PI-300 是日本 Photonic-Lattice 推出的偏光成像相机,基于光子晶体偏光阵列技术,可在单次拍摄中同时获取亮度、线偏振度(DOLP)及偏振主轴方位,无需机械旋转部件,适合微小亮度差物体的轮廓识别与激光偏振测量。
Photonic‑Lattice斯托克斯偏振成像相机 WPI-200 是日本 Photonic-Lattice 推出的斯托克斯偏振成像相机(Stokes Camera),属于 WPI 系列。与 PA/WPA 系列聚焦双折射与应力不同,WPI-200 的核心定位是获取全偏振态信息——包括表示偏振度的 DOP 以及顺时针/逆时针圆偏振光的区分,可一次性输出完整的斯托克斯参数图像。
Photonic‑Lattice近红外二维双折射显微镜 PA-300-NIR 是日本 Photonic-Lattice 推出的近红外二维双折射/应力评价系统,属于 PA 系列中的 NIR 专用型号。与可见光型 PA-300(520nm)不同,它采用 850nm 近红外波长,可测量肉眼不透明但近红外透光的特殊材料,如硫系玻璃透镜、LiDAR 激光扫描仪树脂盖板等。
日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜 PA-300-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 PA-300 的一体式台式设计不同,MT 版本采用测量头与光源分离结构,测量头可嵌入产线实现在线集成,专为 0~130nm 低位相差样品(如玻璃、光学镜头)的高速检测设计。
日本Photonic‑Lattice双折射测量显微镜 PA-micro 是日本 Photonic-Lattice 推出的显微镜型二维双折射/残余应力测量系统。与 PA-300 的台式宏观定位不同,它将光子晶体偏光传感器与奥林巴斯或尼康显微镜结合,把应力测量下沉至微米尺度,适合 TGV 玻璃通孔、芯片边缘、微小光学元件等微区应力分析。
Photonic‑Lattice二维双折射应力测量仪 PA-300 是日本 Photonic-Lattice 推出的二维双折射/应力评价系统,属于 PA 系列中的低位相差专用型号。与 WPA-200 主打宽量程不同,PA-300 聚焦 0~130nm 低相位差区间,以 500 万像素实现玻璃、镜片、SiC 晶圆等低应力样品的精密检测。
Photonic‑Lattice分离式双折射应力测量仪 WPA-200-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 WPA-200 的一体式设计不同,MT 版本采用测量头与光源分离的结构,测量头可嵌入产线实现在线集成,适合自动化生产中的应力品质管理。
Photonic‑Lattice二维双折射应力显微镜 WPA-micro 是日本 Photonic-Lattice 推出的显微镜型二维双折射/应力评价系统,与 WPA-200 的台式工业检测定位不同,它将光子晶体偏光传感器深度集成至奥林巴斯或尼康显微镜中,可在微观视野内精准定位并量化结晶取向、残余应力及相位差分布。
Photonic‑Lattice二维双折射应力检测仪 WPA-200 是日本 Photonic-Lattice 公司基于光子晶体偏光传感器技术开发的二维双折射/应力评价系统。核心原理是利用光弹性效应,将透明材料内部应力转化为可量化的相位差分布图像,实现全域一次成像、数秒完成测量,广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃及镜片的残余应力与双折射品质管理。