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Photonic‑Lattice二维双折射应力显微镜
Photonic‑Lattice二维双折射应力显微镜
WPA-micro 是日本 Photonic-Lattice 推出的显微镜型二维双折射/应力评价系统，与 WPA-200 的台式工业检测定位不同，它将光子晶体偏光传感器深度集成至奥林巴斯或尼康显微镜中，可在微观视野内精准定位并量化结晶取向、残余应力及相位差分布。
参数项规格说明
输出项目相位差（nm）、轴方位（°），应力换算（MPa，选配）
测量范围0 ~ 3,500 nm（以水晶为基准）
测量波长523 / 543 / 575 nm（三波长）
像素数384 × 288（约 11 万）
重复精度相位差 σ < 0.1 nm；轴方位 σ < 0.1°（相位差 > 10nm）
物镜倍率×2 / ×5 / ×10 / ×20 / ×50
视野范围约 80×110 μm ~ 2.0×2.7 mm（依物镜）
特殊功能反射评估（支持金属等不透明样品）
尺寸/质量270×500×615 mm / 约 20 kg
软件WPA-View（for WPA-micro）
总结
WPA-micro 的核心优势在于将宏观面分布测量升级为“微观形貌 + 双折射"的复合分析。光子晶体偏光阵列取代机械旋转部件，配合三波长交叉运算，在 0~3,500nm 大相位差量程内实现单次视野全域成像。独特的反射评估功能打破了传统透射式双折射仪的应用局限，可对金属、不透明样品进行表面测量。选型时需注意：该机型标配显微镜组件，适合高校实验室及材料研发场景；若仅需宏观样品快速检测，WPA-200 系列更为合适。
中崎目前已获得NPM脉冲、CCS晰写速、SEN日森、EYE岩崎、USHIO牛尾、NIPPON GEAR日本齿轮、KAKUHUNTER写真化学、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、SERIC索莱克斯、REVOX莱宝克斯、NITTO KOHKI日东工器、ATAGO爱拓、SONIC索尼克、SIGMA西格玛、SUGIYAMA杉山电机、HAYASHI林时计、ORIHARA折原、YUASA尤安萨、EYELA东京理化、SANKO三高、NEWKON新光、HEIDON新东科学、SIBATA柴田科学、HORIBA堀场、TAKASAGO高沙、MITUTOYO三丰、JIKCO吉高、AND爱安德、ONOSOKKI小野、PISCO碧士克、TOPCON拓普康、NDK电波工业、STANLEY史丹利、HIOS好握速、SATA世达、HAKKO白光、TOHNICHI东日等多家品牌认证。
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