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Photonic‑Lattice二维双折射应力检测仪
Photonic‑Lattice二维双折射应力检测仪
WPA-200 是日本 Photonic-Lattice 公司基于光子晶体偏光传感器技术开发的二维双折射/应力评价系统。核心原理是利用光弹性效应，将透明材料内部应力转化为可量化的相位差分布图像，实现全域一次成像、数秒完成测量，广泛用于光学薄膜、透明树脂、玻璃及镜片的残余应力与双折射品质管理。
参数项规格说明
输出项目相位差（nm）、轴方位（°）、应力换算（MPa，选配）
测量范围0 ~ 3,500 nm（以水晶为基准）
测量波长523 nm / 543 nm / 575 nm（三波长）
像素数384 × 288（约 11 万）
重复精度相位差 σ < 0.1 nm；轴方位 σ < 0.1°（>10nm）
测量视野约 27×36 mm ~ 100×133 mm（标准）；3.0×4.0 mm ~（变焦镜头选配）
接口GigE（相机信号）
电源AC100~240V，最大 5.0A
本体尺寸270 × 337 × 最大 631 mm
质量约 13 kg
总结
WPA-200 的核心优势在于光子晶体偏光阵列取代机械旋转部件，实现无运动误差的高速全域测量，单次测量可达 10 万点以上，数秒内完成。三波长测量将相位差范围拓展至 3,500nm，配合 CD 模式与高相位差测量选配可扩展至 10,000nm，覆盖从常规光学薄膜到高双折射工程塑料的广泛材料。选型时需注意：标准型 WPA-200 适合中小样品，大尺寸样品需选择 WPA-200-L 或 WPA-200-XL；应力值（MPa）输出为数据处理选配功能，非标准配置。
中崎目前已获得NPM脉冲、CCS晰写速、SEN日森、EYE岩崎、USHIO牛尾、NIPPON GEAR日本齿轮、KAKUHUNTER写真化学、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、SERIC索莱克斯、REVOX莱宝克斯、NITTO KOHKI日东工器、ATAGO爱拓、SONIC索尼克、SIGMA西格玛、SUGIYAMA杉山电机、HAYASHI林时计、ORIHARA折原、YUASA尤安萨、EYELA东京理化、SANKO三高、NEWKON新光、HEIDON新东科学、SIBATA柴田科学、HORIBA堀场、TAKASAGO高沙、MITUTOYO三丰、JIKCO吉高、AND爱安德、ONOSOKKI小野、PISCO碧士克、TOPCON拓普康、NDK电波工业、STANLEY史丹利、HIOS好握速、SATA世达、HAKKO白光、TOHNICHI东日等多家品牌认证。
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