产品介绍！日本Photonic‑Lattice PA-300-MT 二维双折射显微镜

更新时间：2026-09-24

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产品介绍！日本Photonic‑Lattice PA-300-MT 二维双折射显微镜

PA-300-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 PA-300 的一体式台式设计不同，MT 版本采用测量头与光源分离结构，测量头可嵌入产线实现在线集成，专为 0~130nm 低位相差样品（如玻璃、光学镜头）的高速检测设计。

参数项规格说明

输出项目相位差（nm）、轴方位（°），应力换算（MPa，选配）

测量范围0 ~ 130 nm

测量波长520 nm

像素数2056 × 2464（约 500 万）

测量视野约 37×44 mm（标准镜头）；7.0×8.4 ~ 20.0×24.0 mm（变焦选配）

接口GigE

尺寸 / 质量160×190×316 mm / 约 4.0 kg

软件PA-View

总结

PA-300-MT 的核心优势在于分离式设计带来的产线嵌入能力——测量头仅约 4kg，可单独集成至生产设备中，光源远程放置，适合自动化在线检测场景。500 万像素偏振传感器实现全视野一次成像，测量最快约 3 秒，重复精度 σ < 0.1 nm。搭载 PA-View 软件，支持实时解析与 OK/NG 自动判定。选型时需注意：该机型为单波长 520nm、量程上限 130nm，仅适合低相位差样品；若需宽量程测量，应选择 WPA 系列。

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