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日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜
  • 产品型号:PA-300-MT
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-09-22
  • 访  问  量:10
简要描述:

日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜
PA-300-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 PA-300 的一体式台式设计不同,MT 版本采用测量头与光源分离结构,测量头可嵌入产线实现在线集成,专为 0~130nm 低位相差样品(如玻璃、光学镜头)的高速检测设计。

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日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜

日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜

PA-300-MT 是日本 Photonic-Lattice 推出的分离式二维双折射/应力评价系统。与 PA-300 的一体式台式设计不同,MT 版本采用测量头与光源分离结构,测量头可嵌入产线实现在线集成,专为 0~130nm 低位相差样品(如玻璃、光学镜头)的高速检测设计。

参数项规格说明

输出项目相位差(nm)、轴方位(°),应力换算(MPa,选配)

测量范围0 ~ 130 nm

测量波长520 nm

像素数2056 × 2464(约 500 万)

测量视野约 37×44 mm(标准镜头);7.0×8.4 ~ 20.0×24.0 mm(变焦选配)

接口GigE

尺寸 / 质量160×190×316 mm / 约 4.0 kg

软件PA-View

总结

PA-300-MT 的核心优势在于分离式设计带来的产线嵌入能力——测量头仅约 4kg,可单独集成至生产设备中,光源远程放置,适合自动化在线检测场景。500 万像素偏振传感器实现全视野一次成像,测量最快约 3 秒,重复精度 σ < 0.1 nm。搭载 PA-View 软件,支持实时解析与 OK/NG 自动判定。选型时需注意:该机型为单波长 520nm、量程上限 130nm,仅适合低相位差样品;若需宽量程测量,应选择 WPA 系列。

日本Photonic‑Lattice二维双折射显微镜

中崎目前已获得NPM脉冲、CCS晰写速、SEN日森、EYE岩崎、USHIO牛尾、NIPPON GEAR日本齿轮、KAKUHUNTER写真化学、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、SERIC索莱克斯、REVOX莱宝克斯、NITTO KOHKI日东工器、ATAGO爱拓、SONIC索尼克、SIGMA西格玛、SUGIYAMA杉山电机、HAYASHI林时计、ORIHARA折原、YUASA尤安萨、EYELA东京理化、SANKO三高、NEWKON新光、HEIDON新东科学、SIBATA柴田科学、HORIBA堀场、TAKASAGO高沙、MITUTOYO三丰、JIKCO吉高、AND爱安德、ONOSOKKI小野、PISCO碧士克、TOPCON拓普康、NDK电波工业、STANLEY史丹利、HIOS好握速、SATA世达、HAKKO白光、TOHNICHI东日等多家品牌认证。

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