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日本OTSUKA大塚电子相位差测量装置
日本OTSUKA大塚电子相位差测量装置
RETS-100nx是日本大塚电子推出的新一代相位差（光学延迟量）测量装置，专为OLED圆偏光片、叠层补偿膜、IPS液晶用带补偿偏光片等各类光学功能薄膜的高精度检测而设计。该设备基于偏光光学系统与多通道光谱检测技术，核心优势在于其极宽的相位差测量范围（0~60,000nm）和非破坏性多层测量能力，无需剥离样品即可对贴合膜进行原位分析。依托大塚自研的高性能MCPD光谱仪，可获取约500个波长的透过率信息（约为同类产品的50倍），从而实现对任意波长下相位差的高精度测量。此外，其轴角度补正功能可有效消除样品放置偏差带来的误差，确保数据的再现性。
核心参数表
项目规格详情
测量项目相位差（波长分散）、慢轴、Rth*、3次元折射率*；偏光片吸收轴、偏光度、消光比；液晶Cell Gap、预倾角*、扭曲角、配向角等
相位差测量范围0 ~ 60,000 nm
相位差重复性3σ ≦ 0.08 nm（水晶波长板 约600nm）
Cell Gap测量范围0 ~ 600 μm（Δn=0.1时）
Cell Gap重复性3σ ≦ 0.005 μm（cell gap约3μm, Δn=0.1）
轴检测重复性3σ ≦ 0.08°（水晶波长板 约600nm）
测量波长范围400 ~ 800 nm（其他波长可选）
检测器多通道光谱仪
测量光斑φ2 mm（标准规格）
光源100W 卤素灯
样品台（标准）100mm × 100mm（固定样品台）
装置尺寸480(W) × 520(D) × 765(H) mm
选配功能超高相位差测量、多层测量、轴角度补正功能、自动XY样品台、自动倾斜旋转样品台（用于Rth及3次元折射率解析）
总结
RETS-100nx以宽量程、高精度、多功能为核心定位，将相位差测量上限拓展至60,000nm，覆盖了从普通补偿膜到超双折射薄膜的各类光学材料。其的多层非破坏测量与轴角度补正功能，显著提升了复杂膜层结构分析的便利性与数据可靠性。无论是用于偏光片、光学膜的光学特性评价，还是液晶盒的Cell Gap与配向角分析，该设备均为显示与光学材料领域的研发及质控提供了兼具效率与精度的解决方案。
中崎目前已获得NPM脉冲、FANUC发那科、日本SR，日本SAKAE思博，日本ENDO远藤、NITTO KOHKI日东工器，SUZUKI超声波切割机，GRAPHTEC图技，JST日压，AND爱安德，TRUSCO中山，ASONE亚速旺，TOA-DKK 东亚电波，ATAGO爱拓，HOZAN宝山，FUNATECH船越龙，VESSEL威威，HEIDON新东科学，HIOS好握速，SIBATA柴田科学，HORIBA堀场， ONOSOKKI小野，KETT凯特，日本CKD，日本妙德CONVUM，HAKKO白光，SSD西西蒂，MALCOM马康，MUSASHI武藏， AMADA米亚基，MECT麦特，Mitutoyo三丰，PISCO匹士克等多家品牌认证。
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